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描述：X光無(wú)損測(cè)厚儀主要用于檢測(cè)金屬電鍍層厚度（如鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍鈀……）；在企業(yè)品質(zhì)檢測(cè)、來(lái)料管控方面，得到廣泛的應(yīng)用。X光無(wú)損測(cè)厚儀是專(zhuān)業(yè)測(cè)試電鍍層厚度的，喬邦儀器銷(xiāo)售的鍍層測(cè)厚儀；儀器采用上照式結(jié)構(gòu)，測(cè)試，軟件界面簡(jiǎn)潔，測(cè)試樣品用時(shí)40S，售后服務(wù)可靠及時(shí)。
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間
2025-05-19訪問(wèn)量
1272| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：
1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005
2、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005
3、庫(kù)侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005
X光無(wú)損測(cè)厚儀原理
產(chǎn)生X射線的簡(jiǎn)單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過(guò)程中，電子突然減速，其損失的動(dòng)能（其中的1%）會(huì)以光子形式放出，形成X光光譜的連續(xù)部分，稱之為制動(dòng)輻射。通過(guò)加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內(nèi)層電子撞出。于是內(nèi)層形成空穴，外層電子躍遷回內(nèi)層填補(bǔ)空穴，同時(shí)放出波長(zhǎng)在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波長(zhǎng)也集中在某些部分，形成了X光譜中的特征線，此稱為特性輻射。
X光無(wú)損測(cè)厚儀測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1.國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
產(chǎn)品分類(lèi)
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