天瑞能量色散X射線熒光光譜儀EDX 600PLUS能量色散X熒光光譜儀使用實(shí)用的正比計數(shù)管，以實(shí)在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計，使儀器操作更人性化、更方便。

X熒光貴金屬檢測儀符合國標(biāo)GB/T 18043-2013對儀器分辨率的要求，本產(chǎn)品是在天瑞儀器多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)之上研發(fā)的一款新型測試儀，采用新一代探測器及多道技術(shù)，實(shí)現(xiàn)高計數(shù)率，1秒出結(jié)果，準(zhǔn)確分析貴金屬含量。同時，具備二維移動平臺及高清工業(yè)攝像頭，實(shí)現(xiàn)樣品定位。（可對99.99%黃金進(jìn)行有效分析）。

天瑞X射線熒光光譜儀EXPLORER 5000T手持式XRF鍍層厚度分析儀是使用全新大屏高分辨率液晶顯示屏及新型數(shù)字多道數(shù)據(jù)處理器的便攜式手持鍍層測厚分析儀。EXPLORER 5000T可對大面積鍍層產(chǎn)品進(jìn)行膜厚分析，儀器不僅體積小、重量輕，可隨身攜帶進(jìn)行測量；而且性能很好，堪比臺式機(jī)。

秉承X熒光光譜儀20多年研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，天瑞元素錄井分析儀EDX5500H再次推動了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發(fā)展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項(xiàng)技術(shù)的獨(dú)到之處在于：天瑞X射線熒光光譜儀通過巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來識別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。

天瑞X射線熒光光譜儀SEE系列土壤重金屬分析儀是天瑞儀器結(jié)合20年X熒光研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù)，研制出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的，全新一代檢測土壤重金屬的XRF產(chǎn)品。通過系列不同產(chǎn)品，可以滿足各類客戶需求，還能用于車載式檢測。應(yīng)用于土壤污染物進(jìn)行原位測試與修復(fù)分析中，應(yīng)用于各類地質(zhì)中，檢測樣品包括礦渣、巖石、泥土、泥漿，特別關(guān)注在國家標(biāo)準(zhǔn)中所關(guān)注的15大重金屬元素

天瑞X射線熒光光譜儀探險者EXPLORER手持式X熒光分析儀(手持式光譜儀)是天瑞儀器結(jié)合10年手持XRF技術(shù)研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù)，研制出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的全新一代手持XRF產(chǎn)品。EXPLORER 3000F手持式XRF 有害元素分析儀是天瑞儀器針對RoHS行業(yè)特別研發(fā)設(shè)計的手持檢測分析儀。